ポジトロンイメージング装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993138740
Publication number (International publication number)：1994347555
Application date： Jun. 10, 1993
Publication date： Dec. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】被測定物内の関心のある特定部位を、位置や大きさに合わせて、効率的に測定できるポジトロンイメージング装置を提供する。【構成】対消滅に伴う2光子は、被測定物を挟んで配置された検出器アレイ111、112のγ線検出器200に入射する。γ線検出器200から出力された電気パルス信号は対消滅推定部300に入力され、同時計数条件により電子・陽電子対消滅が起こったことが推定され、対消滅発生通知と検出器の情報が画像再構成部520へ通知される。γ線検出器200から出力された電気パルス信号は飛行時間差計測部400に入力され、検出器間の検出時間差が計測され、画像再構成手段520へ通知される。画像再構成部520は、入力した情報に基いて対消滅位置を推定し蓄積する。蓄積した位置情報を逐次近似法などにより実質的に測定誤差を補償するアルゴリズムにより、特定部位の断層像を得る。

Claim (excerpt)：

第1の数の第1の開口数を有するγ線検出器が配設されて構成される第1の検出器アレイと、被測定物を挟んで、前記第1の検出器アレイと対向して配置された、第2の数の第2の開口数を有するγ線検出器が配設されて構成される第2の検出器アレイと、前記第1の検出器アレイと前記第2の検出器アレイとから出力された入力光子のエネルギを反映した信号を入力して、電子・陽電子対消滅に伴って発生した光子対を推定する対消滅推定手段と、前記対消滅推定手段から出力される対消滅発生通知に同期して、電子・陽電子対消滅に伴って発生した光子対として推定された前記第1の検出器アレイの受光検出器情報および前記第2の検出器アレイの受光検出器情報を収集し、蓄積し、蓄積した検出器情報から算出される対消滅の発生位置を通る直線情報に基づいて所定の画像再構成アルゴリズムに従って演算する画像再構成手段と、を含んで構成され、前記第1の数と前記第2の数、前記第1の開口数と前記第2の開口数、あるいは前記第1の検出器アレイにおける検出器の空間配設密度と前記第2の検出器アレイにおける検出器の空間配設密度、の少なくともいずれか一つが異なり、対向する全てのγ線検出器対について同時計数することを特徴とするポジトロンイメージング装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

特開昭58-015845
特開昭58-015845
特開平4-220589

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