計算機支援X線断層撮影装置、計算機支援X線断層撮影装置の改造方法、計算機支援X線断層撮影装置用の吸収フィルタ

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：特許業務法人コスモス特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006236614
Publication number (International publication number)：2007268241
Application date： Aug. 31, 2006
Publication date： Oct. 18, 2007
Summary：

【課題】簡易な構成を有し、DEMを容易に実現することのできる計算機支援X線断層撮影装置(以下、CT)、CTの改造方法、これらに用いる吸収フィルタを提供する。【解決手段】CT10は、X線LXを発生するX線管球1と、X線LXの強度を検出するセンサ2と、X線LXの一部を吸収する吸収フィルタ3と、第1X線LX1が第1ビーム経路11を通ってセンサ2に届く第1状態ST1に対して、第2X線LX2が第1ビーム経路11と同一の場所を逆に進行する第2ビーム経路12を通ってセンサ2に届く第2状態ST2が存在する移動走査パターンで、X線管球1及びセンサ2を移動させる移動走査機構4と、を備える。吸収フィルタ3は、第1状態ST1において、第1吸収経路31を通る第1X線LX1のエネルギスペクトル分布と、第2状態ST2において、第2吸収経路32を通る第2X線LX2のエネルギスペクトル分布とを、互いに他方の定数倍とは異なる分布形状とする形態を有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

所定のエネルギ領域内にエネルギスペクトル分布を有するX線を発生するX線源と、被検体が配置される撮像対象空間を介して上記X線源と対向して配置され、上記X線源から上記撮像対象空間を経由して届く上記X線の強度を検出する1または複数のセンサと、上記X線源と上記センサとの間に配置され、上記X線が上記センサに届く前に上記X線の一部を吸収する吸収フィルタと、上記X線源から放射された第1X線が第1ビーム経路を通って上記1または複数のセンサのうちのいずれかに届く第1状態に対して、上記X線源から放射された第2X線が、上記撮像対象空間のうち上記第1ビーム経路と同一の場所を、これとは逆に進行する第2ビーム経路を通って上記1または複数のセンサのうちのいずれかに届く第2状態が存在する移動走査パターンで、上記X線源及び上記センサを移動させ、上記撮像対象空間を上記X線で走査する移動走査機構であって、上記撮像対象空間内の仮想中心軸の周りに、上記X線源及び上記センサを回転移動させる回転移動機構を含む移動走査機構と、を備える計算機支援X線断層撮影装置であって、上記吸収フィルタは、上記回転移動機構に対して相対位置が固定され、上記第1ビーム経路及び第2ビーム経路が、共に上記仮想中心軸を通る場合を除き、上記第1ビーム経路のうち上記吸収フィルタ内に位置する第1吸収経路と、上記第2ビーム経路のうち上記吸収フィルタ内に位置する第2吸収経路とが重ならない配置とされてなり、上記第1状態において、上記第1吸収経路を通って、上記1または複数のセンサのうちのいずれかに届く上記第1X線のエネルギスペクトル分布と、上記第2状態において、上記第2吸収経路を通って、上記1または複数のセンサのうちのいずれかに届く上記第2X線のエネルギスペクトル分布とを、互いに他方の定数倍とは異なる分布形状とする形態を有する吸収フィルタである計算機支援X線断層撮影装置。

IPC (1)：

A61B 6/03

FI (4)：

A61B6/03 320M , A61B6/03 341 , A61B6/03 345 , A61B6/03 373

F-Term (5)：

4C093AA22 , 4C093BA02 , 4C093BA03 , 4C093EA07 , 4C093EA11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

Alvarez,R.E. et.al., ``X-ray spectral deconposition imaging system'', United States Patent, No. 710,359, July 1976.

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