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J-GLOBAL ID：200903065878893760

製造ライン監視システム並びに製造ライン

Inventor： 坂本 勉 ,  中里 純 ,  下社 貞夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993016239
Publication number (International publication number)：1994232018
Application date： Feb. 03, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：

【要約】【目的】 途中の製造工程で最終歩留を予測すること。【構成】 中間検査装置2、最終検査装置3、データ解析ステーション1、中間検査データベース5、最終検査データベース7および歩留予測データベース6から構成され、製品の中間検査を工程途中で行いその結果から歩留予測データベース6にある歩留予測データを検索した上、最終検査での予測歩留を予測すれば、生産管理部門はその予測歩留にもとづき早期に不足分の追加投入などの製造調整が行え、注文数分の製品の納期内での納入や、余剰製品の低減による仕損費の抑制が可能となるものである。

Claim (excerpt)：

未完成状態の製品ワーク各々が製造ラインとしての各種製造工程各々を順次介されることによって、最終製造工程で完成状態の製品ワークを順次得るに際し、1以上の中間製造工程各々での製品ワークに対する中間検査結果と、最終製造工程での最終検査結果とにもとづき、全製品ワークに占める良品製品ワークの割合としての最終歩留を予測するための製造ライン監視システムであって、中間製造工程各々で製品ワークに対し中間検査を行う1以上の中間検査装置と、最終製造工程で製品ワークに対し最終検査を行う最終検査装置と、上記中間検査装置各々からの中間検査データを更新可として記憶する中間検査データベースと、最終検査装置からの最終検査データを更新可として記憶する最終検査データベースと、上記中間検査データベース、最終検査データベース各々からの、歩留予測に必要とされる最新検査データを更新可として記憶する歩留予測データベースと、上記中間検査装置、最終検査装置、中間検査データベース、最終検査データベースおよび歩留予測データベース各々を収容した上、歩留予測データベースに記憶されている最新検査データを歩留予測データとして、該歩留予測データより解析された、中間検査データ、最終検査データ間での最新相関関係を示す関数式に、中間検査装置各々より現に得られている中間検査結果を代入することによって、最終歩留を予測するデータ解析ステーションと、該データ解析ステーションに収容された状態で、データ解析に係る各種データを表示する表示装置と、を少なくとも含む製造ライン監視システム。