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J-GLOBAL ID:200903065941663222

超音波撮像において組織変形の実時間計算および表示を実現する方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山川 政樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000250716
Publication number (International publication number):2001070303
Application date: Aug. 22, 2000
Publication date: Mar. 21, 2001
Summary:
【要約】【課題】 組織変形パラメータを計算し、表示するための超音波システムおよび方法を開示する。組織速度撮像または歪み率撮像で高いフレーム率を可能にする超音波取得技法を利用する。【解決手段】 この取得技法では、組織画像およびドップラー・ベースの画像について同じ超音波パルスを使用する。処理にはスライディング・ウィンドウ技法を使用する。組織変形パラメータである歪みも、ある間隔にわたる連続したフレームについての歪み率推定値を累積することによって決定する。
Claim (excerpt):
超音波システム中で合成組織画像および組織運動画像を生成する方法であって、本方法は、第1の期間中に、対象空間領域をカバーする複数の超音波ビームに沿った複数のレンジ位置で、エコー信号を取得するステップと、第2の期間中に、前記対象空間領域をカバーする複数の超音波ビームに沿った複数のレンジ位置で、エコー信号を取得するステップと、第3の期間中に、前記対象空間領域をカバーする複数の超音波ビームに沿った複数のレンジ位置で、エコー信号を取得するステップと、合成組織画像および組織運動画像の第1のフレームを生成するため、少なくとも前記第1および第2の期間から取得されたエコー信号を処理するステップと、合成組織画像および組織運動画像の第2のフレームを生成するため、少なくとも前記第2および第3の期間から取得されたエコー信号を処理するステップとを含む方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 特開平4-208143
  • 超音波診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-218577   Applicant:富士通株式会社
  • 超音波診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-049215   Applicant:富士通株式会社, 中山淑
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-208143
  • 超音波診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-218577   Applicant:富士通株式会社
Article cited by the Patent:
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