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J-GLOBAL ID:200903065976908058

LSI素子製造方法、及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993273329
Publication number (International publication number):1994208056
Application date: Oct. 05, 1983
Publication date: Jul. 26, 1994
Summary:
【要約】【目的】 超LSI素子の製造時のパターン露光の際、高いマッチング精度を保つようにする。【構成】 超LSI製造用の露光装置投影光学系が持つ光学諸性能のうち、少なくとも収差を任意に調整可能とし、一定の収差特性のもとでLSIパターンの露光を行う。
Claim (excerpt):
均一化された照明光によりレチクル上のLSIパターンを照明し、該LSIパターンを投影光学系により感光基板上に結像投影する段階を有するLSI素子の製造方法において、前記投影光学系の光学諸性能のうち特定の収差を調整可能とし、所定の収差を得ることを特徴とするLSI素子製造方法。
IPC (2):
G02B 13/24 ,  H01L 21/30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭60-078416
  • 特開昭60-078416

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