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J-GLOBAL ID：200903066003090600

ダニアレルゲン計測方法、ダニアレルゲン用の被検査物、及びダニアレルゲン計測装置

Inventor： 森安 恵子 ,  遠山 貴博 ,  麻生 康弘
Applicant, Patent owner： アイシン精機株式会社
Agent (1)： 大川 宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000344873
Publication number (International publication number)：2002148188
Application date： Nov. 13, 2000
Publication date： May. 22, 2002
Summary：

【要約】【課題】ダニ抗原を計測するのに有利なダニアレルゲン計測方法、ダニアレルゲン用の被検査物、ダニアレルゲン計測装置を提供する。【解決手段】ダニ抗原を含む試料液と、ダニ抗体が担持されていると共に光反射機能をもつ担持部16を有する被検査物1とを用い、試料液を被検査物1の担持部16に接触させることにより、被検査物1の担持部16のダニ抗体に試料液中のダニ抗原を固定させる。光源5からの光を入射角θ1を変化させつつ、被検査物1の担持部16に入射させると共に反射させ、その反射した光を光検出部6で受光し、表面プラズモン共鳴により反射光300の光強度が低下するときの入射光200の入射角である共鳴角を求め、被検査物1の担持部16に固定されているダニ抗原を共鳴角に基づいて定量的に計測する。

Claim (excerpt)：

ダニアレルゲンとなり得るダニ抗原を含む塵埃物質を含む試料液と、ダニ抗体が担持されていると共に光反射機能をもつ担持部を有する被検査物とを用い、試料液を被検査物の担持部に接触させることにより、被検査物の担持部のダニ抗体に試料液中のダニ抗原を固定させる工程と、光源からの光を入射角を変化させつつ、被検査物の担持部に入射させると共に反射させ、その反射した光を光検出部で受光し、表面プラズモン共鳴により反射光の光強度が低下するときの入射光の入射角である共鳴角を求め、被検査物の担持部に固定されているダニ抗原を共鳴角に基づいて定量的に計測する工程を含むことを特徴とする表面プラズモン共鳴を用いるダニアレルゲン計測方法。

IPC (5)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/01 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 1/36

FI (5)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/01 B ,  G01N 33/53 Q ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 1/28 Y

F-Term (13)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC17 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059NN07