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J-GLOBAL ID：200903066082751846

偏光解析装置及び偏光解析方法

Inventor： 長島 健 ,  萩行 正憲 ,  平中 弘一
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 東島 隆治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001195395
Publication number (International publication number)：2003014620
Application date： Jun. 27, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 テラヘルツ領域における試料の複素光学定数スペクトルをリファレンス測定を必要とせずに導出することのできる時間領域偏光解析装置を提供する。【解決手段】 本発明の偏光解析装置は、光パルスを発生する光源と、光源から射出された光パルスを分割する光分割手段と、分割した一方の光パルスを入力して電磁波を放射する電磁波放射手段と、放射された電磁波を平行化する平行化手段と、平行化された電磁波を入力して偏光電磁波を透過させ且つ偏光面を切換可能な偏光手段と、試料で反射した偏光電磁波を入力して偏光電磁波成分を透過させる検光手段と、透過した偏光電磁波成分を集光する集光手段と、分割された他の一方の光パルスを可変的に時間遅延させる光学的時間遅延手段と、集光された偏光電磁波成分と時間遅延された他の一方の光パルスとを入力して集光された偏光電磁波成分を電気信号に変換する電磁波検出手段と、を有する。

Claim (excerpt)：

光パルスを発生する光源と、前記光源から射出された光パルスを分割する光分割手段と、分割した一方の光パルスを入力して電磁波を放射する電磁波放射手段と、放射された電磁波を平行化する平行化手段と、平行化された電磁波を入力して偏光電磁波を透過させ且つ偏光面を切換可能な偏光手段と、試料で反射した前記偏光電磁波を入力して偏光電磁波成分を透過させる検光手段と、前記透過した偏光電磁波成分を集光する集光手段と、分割された他の一方の光パルスを可変的に時間遅延させる光学的時間遅延手段と、集光された前記偏光電磁波成分と前記時間遅延された他の一方の光パルスとを入力して、集光された前記偏光電磁波成分を電気信号に変換する電磁波検出手段と、を有することを特徴とする偏光解析装置。

IPC (2)：

G01N 21/21 ,  G01J 4/04

FI (2)：

G01N 21/21 Z ,  G01J 4/04 Z

F-Term (18)：

2G059AA05 ,  2G059DD13 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP10