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J-GLOBAL ID：200903066207221844

3次元形状計測装置および方法、並びに記録媒体

Inventor： 橋本 慶隆 ,  呉 偉国 ,  後 輝行 ,  横山 敦
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 稲本 義雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999364241
Publication number (International publication number)：2001183133
Application date： Dec. 22, 1999
Publication date： Jul. 06, 2001
Summary：

【要約】【課題】 任意の距離に位置する被写体の3次元形状を計測する。【解決手段】 撮像部31,33は、被写体を撮像し、画像信号をそれぞれ画像取り込み部32,34に出力する。画像取り込み部32,34は、制御部38からの制御に基づくタイミングで画像信号を取り込む。ステレオ視3次元形状計測部36は、ステレオ視計測モードにおいて、基準画像と参照画像にステレオ視を適用して各画素の被写体の3次元形状を計測する。RSM3次元形状計測部37は、RSMモードにおいて、画像取り込み部34から順次入力される複数の画像に対してRSM技術を適用して被写体の3次元形状を計測する。

Claim (excerpt)：

被写体を異なる視点から撮影した画像を用いて、前記被写体の3次元形状を計測する3次元形状計測装置において、前記被写体までの距離を概算する概算手段と、前記概算手段が概算した前記被写体までの距離に対応して、第1のモードと第2のモードを切り替える切り替え手段と、前記第1のモード時に処理を行う手段として、非周期的な投光パターンが照射された状態の前記被写体を撮影して、基準画像を生成する第1の撮影手段と、前記第1の撮影手段の位置とは異なる位置から前記第1の撮影手段と同期して、前記投光パターンが照射された状態の前記被写体を撮影し、参照画像を生成する第2の撮影手段と、前記基準画像上の画素と、前記参照画像上の画素との対応を識別して、対応する画素間の視差を算出する識別手段と、前記視差に基づいて距離画像を生成する距離画像生成手段とを含み、前記第2のモード時に処理を行う手段として、前記被写体を断続的に撮影して、複数の時系列画像を生成する第3の撮影手段と、前記時系列画像上の特徴点を抽出する抽出手段と、前記抽出手段が抽出した前記特徴点を前記複数の時系列画像に亘って追跡する追跡手段と、前記追跡手段の追跡結果に基づいて前記特徴点の3次元座標を演算し、距離画像を生成する演算手段とを含むことを特徴とする3次元形状計測装置。

IPC (2)：

G01C 11/06 ,  G01B 11/24

FI (2)：

G01C 11/06 ,  G01B 11/24 K

F-Term (15)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB28 ,  2F065CC16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF05 ,  2F065GG01 ,  2F065HH00 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ38