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J-GLOBAL ID：200903066240893254

欠陥検査装置

Inventor： 斎藤 憲敬 ,  布施 正樹
Applicant, Patent owner： 三菱レイヨン株式会社
Agent (1)： 二瓶 正敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992191602
Publication number (International publication number)：1994011458
Application date： Jun. 25, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：

【要約】【目的】 1つの欠陥の一部がくびれて細くなっていたり、読み取り濃度が薄かったり、欠陥が斜め方向の場合にも、リアルタイムで1つの欠陥と判定する。【構成】 ラインCCDカメラ1により撮像された被検査物の画像がコンパレータ4により2値化され、欠陥の幅がランレングス符号化回路5により符号化される。CPU15はこのランレングス符号を連続する複数の走査ラインにわたり連結性処理することにより前記欠陥を膨張して欠陥の状態を分類し、この分類された欠陥データに基づいて被検査物の欠陥が1つか否かを判定する。

Claim (excerpt)：

被検査物の表面を走査して、走査ラインにおける一次元画像を読み取り、アナログ信号を出力するラインイメージセンサと、前記ラインイメージセンサからのアナログ信号のレベルを所定値と比較して2値化することにより前記被検査物表面の欠陥を検出する2値化手段と、前記2値化手段により2値化された信号をランレングス符号化する符号化手段と、前記符号化手段により符号化されたランレングス符号を連続する複数の走査ラインにわたり連結性処理することにより前記欠陥を膨張して欠陥の状態を分類する分類手段と、前記分類手段により分類された欠陥データに基づいて被検査物の欠陥が1つか否かを判定する判定手段とを有する欠陥検査装置。

IPC (5)：

G01N 21/89 ,  D06H 3/08 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/66 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭61-245045
  
• 特開昭64-084147
  
• 特開昭60-103487
  
• 特開平3-067159