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J-GLOBAL ID：200903066360887371

中性子発生装置を用いた検査・分析装置

Inventor： 田所 孝広 ,  竹内 一浩 ,  内川 貞夫 ,  新村 信雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日本原子力研究所
Agent (1)： 小川 勝男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002117166
Publication number (International publication number)：2003315289
Application date： Apr. 19, 2002
Publication date： Nov. 06, 2003
Summary：

【要約】【課題】小型で簡便な、中性子を用いた検査・分析装置を提供すること。【解決手段】核融合反応を用いて高速中性子を発生させる中性子発生源と、この中性子源で発生した高速中性子を減速して冷熱中性子化するための中性子減速材と、この冷熱中性子を反射するための中性子反射装置と、前記中性子反射装置から冷熱中性子を導く中性子導管と、前記冷熱中性子の特定の波長を取り出すための中性子波長選別装置と、取り出された特定の波長の中性子を試料または材料に照射し、この試料または材料を透過したり、または散乱もしくは反射したりする中性子を検出するための二次元中性子検出器を有することを特徴とする中性子発生装置を用いた検査・分析装置。

Claim (excerpt)：

核融合反応を用いて高速中性子を発生させる中性子発生源と、この高速中性子を反射するための中性子反射装置と、この中性子反射装置から高速中性子を導く中性子導管と、この中性子導管で導いた高速中性子を試料または材料に照射し、この試料または材料を透過したり、または散乱もしくは反射したりする中性子を検出するための二次元中性子検出器を有することを特徴とする中性子発生装置を用いた検査・分析装置。

IPC (11)：

G01N 23/20 ,  G01N 23/05 ,  G01N 23/221 ,  G01T 3/00 ,  G01T 3/08 ,  G21K 1/00 ,  G21K 1/06 ,  G21K 1/10 ,  G21K 5/02 ,  G21K 5/08 ,  H05H 3/06

FI (13)：

G01N 23/20 ,  G01N 23/05 ,  G01N 23/221 ,  G01T 3/00 A ,  G01T 3/00 Z ,  G01T 3/08 ,  G21K 1/00 N ,  G21K 1/06 C ,  G21K 1/06 K ,  G21K 1/10 ,  G21K 5/02 N ,  G21K 5/08 N ,  H05H 3/06

F-Term (24)：

2G001AA04 ,  2G001BA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA14 ,  2G001CA02 ,  2G001CA04 ,  2G001DA09 ,  2G001DA10 ,  2G001EA09 ,  2G085AA20 ,  2G085BA02 ,  2G085BE10 ,  2G088EE27 ,  2G088EE30 ,  2G088FF04 ,  2G088FF09 ,  2G088GG06 ,  2G088GG21 ,  2G088GG30 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ29 ,  2G088LL02 ,  2G088LL06