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J-GLOBAL ID：200903066405258230

走査型光学測定方法

Inventor： 上田 均
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996292801
Publication number (International publication number)：1998132812
Application date： Nov. 05, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】本発明は、マルチプルセルの判定を精度よく、しかも速やかに行うことができる走査型光学測定方法を提供する。【解決手段】ストリップ内で抽出された細胞領域について複数の画像処理パラメータを用いてマルチプルセルの判定を行い(ステップ901、902)、これら複数の判定結果の中から、予め記憶された細胞領域中の全細胞数とマルチプルセル数の比率に基づく基準値に最も近い結果が得られる画像処理パラメータを最適なものとして選択し(ステップ903)、この最適パラメータより得られた細胞データを採用する(ステップ904)。

Claim (excerpt)：

細胞集団上にレーザビームを走査し、該細胞集団からの光学的データを取り込み画像を形成するとともに、該画像を用いて測定を行う走査型光学測定方法において、前記画像の画像処理により細胞領域を抽出するとともに、該細胞領域に対して予め設定した複数の画像処理パラメータでマルチプルセルの判定を行い、これらの判定結果から、予め用意される前記細胞領域中の全細胞数とマルチプルセル数の比率に基づく基準値に最も近い結果が得られる画像処理パラメータを最適な画像処理パラメータとして選択することを特徴とする走査型光学測定方法。

IPC (6)：

G01N 33/483 ,  G01N 15/14 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/49 ,  G02B 21/00 ,  G06T 7/00

FI (7)：

G01N 33/483 C ,  G01N 15/14 B ,  G01N 15/14 C ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 33/49 H ,  G02B 21/00 ,  G06F 15/62 395