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J-GLOBAL ID:200903066407272630

三次元四重極質量分析法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996125523
Publication number (International publication number):1997306419
Application date: May. 21, 1996
Publication date: Nov. 28, 1997
Summary:
【要約】【課題】本発明はイオンの飽和およびイオンのスペ-スチャ-ジを防止しつつ、測定時間の短縮化を図るようにしたものである。【解決手段】イオン源1で生成されたイオンはイオン導入空間に形成された三次元四重極場7に入り、ここでイオントラップされる。三次元四重極場を掃引すると、それにともなって振動が不安定となるイオンから順次その外部へ放出され、検出器12によって検出される。検出されたイオンの信号はデ-タ処理装置13によって処理され、質量スペクトルが得られる。質量分析に先立ってプリ計測が行われる。これは、イオン導入空間をイオンが素通りする空間とした状態で、その素通りしたイオンを検出器によって検出することで達成される。このプリ計測によって質量分析するためにイオンをイオン導入空間に導入する時間を決定する。
Claim (excerpt):
試料をイオン化し、そのイオン化されたイオンを予め定められた空間部に三次元四重極場を形成して質量分析し、その質量分析されたイオンを検出し、これによって前記試料の質量スペクトルを得る質量分析法において、前記イオンの質量分析に先立って、前記予め定められた空間部を前記イオンが素通りする空間部とした状態で該素通りしたイオンの量を検出し、該検出したイオンの量にもとづいて、前記イオンをその質量分析のために前記予め定められた空間に導入する時間を決定することを特徴とする三次元四重極質量分析法。
IPC (3):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/26
FI (4):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L ,  H01J 49/26
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭62-168327

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