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J-GLOBAL ID:200903066422483043
光干渉による分析対象の検出装置およびその方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001236198
Publication number (International publication number):2002122603
Application date: Jun. 10, 1993
Publication date: Apr. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 試料中の分析対象物の光学的分析方法および関連器具/装置を提供すること。【解決手段】 薄膜デバイスを使用し、その基質上の結合層に対する分析対象物の結合前後の表面に当る光のスペクトル変化を通して試料中の分析対象物を検出する。
Claim (excerpt):
(i)光学活性表面に対する疎水的相互作用による抗原の付着を促進する膜形成性ラテックス、高分子シロキサン、分子自己集合性高分子、星形高分子およびデンドリマーから成る群から選択される付属層および(ii)非特異性タンパク質層を具有する、クラミジアもしくはグラム陰性バクテリア抗原の測定用装置。
IPC (10):
G01N 33/569
, G01B 11/06
, G01N 21/21
, G01N 21/27
, G01N 21/64
, G01N 33/543 541
, G01N 33/543
, G01N 33/543 595
, G01N 33/545
, G01N 33/552
FI (10):
G01N 33/569 F
, G01B 11/06 Z
, G01N 21/21 Z
, G01N 21/27 C
, G01N 21/64 F
, G01N 33/543 541 B
, G01N 33/543 541 Z
, G01N 33/543 595
, G01N 33/545 A
, G01N 33/552
F-Term (44):
2F065AA30
, 2F065CC31
, 2F065FF41
, 2F065GG02
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL32
, 2G043AA06
, 2G043BA16
, 2G043BA17
, 2G043CA07
, 2G043DA01
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043GA02
, 2G043GA04
, 2G043GA07
, 2G043GB03
, 2G043HA07
, 2G043JA03
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G059AA01
, 2G059AA10
, 2G059BB10
, 2G059BB13
, 2G059BB14
, 2G059CC16
, 2G059DD04
, 2G059EE02
, 2G059EE07
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH03
, 2G059JJ03
, 2G059JJ19
, 2G059KK02
, 2G059KK04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平2-001557
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特開平3-026965
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特開平1-224665
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