分光装置

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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001071449
Publication number (International publication number)：2002267532
Application date： Mar. 14, 2001
Publication date： Sep. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】同一の受光素子および波長分散手段などの光学系を用いた分光装置において、測定波長範囲を拡大すること。【解決手段】測定光を分散させる波長分散手段と、波長分散手段で分散された測定光が入射される受光素子と、波長分散手段に対する測定光の入射位置が異なる複数の測定光入射手段とを設け、測定波長範囲に応じて測定光入射手段による測定光の入射位置を選択することを特徴とするもの。

Claim (excerpt)：

測定光を分散させる波長分散手段と、波長分散手段で分散された測定光が入射される受光素子と、波長分散手段に対する測定光の入射位置が異なる複数の測定光入射手段とを設け、測定波長範囲に応じて測定光入射手段による測定光の入射位置を選択することを特徴とする分光装置。

IPC (6)：

G01J 3/18 , G01J 3/02 , G01J 3/08 , G01J 3/14 , G01J 3/36 , G02B 6/293

FI (6)：

G01J 3/18 , G01J 3/02 C , G01J 3/08 , G01J 3/14 , G01J 3/36 , G02B 6/28 D

F-Term (10)：

2G020AA03 , 2G020BA20 , 2G020CB04 , 2G020CC02 , 2G020CC13 , 2G020CC42 , 2G020CC63 , 2G020CD06 , 2G020CD24 , 2G020CD32

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

分光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-055334 Applicant：横河電機株式会社
分光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-302887 Applicant：株式会社島津製作所
分光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-323952 Applicant：日本分光株式会社

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