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J-GLOBAL ID:200903066651032721

3次元撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993023949
Publication number (International publication number):1994233757
Application date: Feb. 12, 1993
Publication date: Aug. 23, 1994
Summary:
【要約】【目的】 被写体のX線吸収係数の3次元分布を、高速、正確に得る3次元撮影装置を提供する。【構成】 X線照射手段1は被写体に平行X線12を照射し、2次元検出手段2は被写体11を透過した透過X線13の2次元強度分布を検出し、投影方向変更手段3はX線が被写体を透過する方向(投影方向)を変更し、3次元像再構成手段4は検出結果を逐次取り込む。撮影制御手段5は、操作者の撮影開始の要求に従い、各手段に制御信号を発し投影方向を変更しながらX線の照射、検出を行う。次に、3次元像再構成手段4にて収集した検出結果から、被写体11のX線吸収係数の3次元分布を導出し、3次元画像表示手段6にて表示する。【効果】 従来のX線CTの再構成アルゴリズムを適用でき、計測時の雑音等の影響を軽減でき、高精度、高分解能化を図れる。
Claim (excerpt):
被写体に平行X線を照射する平行X線照射手段と、前記被写体を透過した透過X線の2次元強度分布を検出する2次元検出手段と、前記平行X線を前記被写体に照射し透過X線の2次元強度分布を得る投影方向を変更する投影方向変更手段と、複数の投影方向での前記2次元強度分布をもとに前記被写体のX線吸収係数の3次元分布を再構成する3次元像再構成手段とを有することを特徴とする3次元撮影装置。
IPC (2):
A61B 6/03 320 ,  G06F 15/62 390
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-161110
  • 特開昭60-135013

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