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J-GLOBAL ID：200903066701323773

金属表面の酸化皮膜の分析方法

Inventor： 田中 寛 ,  井上 良 ,  河野 政直 ,  斎藤 篤義 ,  姫野 貞之 ,  大堺 利行
Applicant, Patent owner： ハリマ化成株式会社
Agent (1)： 竹安 英雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991298413
Publication number (International publication number)：1993107218
Application date： Oct. 16, 1991
Publication date： Apr. 27, 1993
Summary：

【要約】【構成】 金属材料の試験片を陰極とし、電位規制電解により初期電位から負側に掃引して試験片の酸化皮膜を還元し、初期電位に復帰させ、再度初期電位から負側に掃引を行い、当該二度の掃引における電気量の差から試験片の表面の酸化の程度を判定する【効果】 簡単な操作で酸化皮膜の厚さを正確に判定することができ、水素発生や溶存酸素の影響を受けない。また本発明により得られた結果は、銅表面の半田付け性と良好な相関を有している。

Claim (excerpt)：

金属材料の試験片を陰極とし、電位規制電解により初期電位から負側に掃引して試験片の酸化皮膜を還元し、初期電位に復帰させ、再度初期電位から負側に掃引を行い、当該二度の掃引における電気量の差から試験片の表面の酸化の程度を判定することを特徴とする、金属表面の酸化皮膜の分析方法

IPC (4)：

G01N 27/26 351 ,  G01N 27/26 ,  B23K 1/00 ,  H05K 3/34