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J-GLOBAL ID：200903066744166248

波面較正分析器と方法

Inventor： リアン,ジュンホン ,  チェンヤック,ディミトリ ,  イー,キングマン ,  ソマニ,セーマ ,  パーソフ,ジェフリイ・ジェイ ,  ハフ,ウォルター ,  キャンベル,チャールズ ,  マナリン,チャールズ・アール ,  ブリベン,ブライアン
Applicant, Patent owner： ヴィズイクス・インコーポレーテッド
Agent (2)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006507171
Publication number (International publication number)：2006522642
Application date： Mar. 12, 2004
Publication date： Oct. 05, 2006
Summary：

波面センサは、切除した試験面の1つまたは複数の特徴を測定することによって、レーザ眼科手術システムのようなレーザ切除システムの較正を向上させる。通常、光は切除した試験面を通過し、光を分析して試験面の特徴を求める。幾つかの実施形態では、切除した試験面を治療平面に沿って位置決めする。幾つかの実施形態では、光はハルトマン・シャック・センサのような波面センサを通過して、光を電気信号に変換する。次に、プロセッサは電気信号を、試験面の高次収差および/またはアーティファクト、屈折力測定値、形状測定値などを示す表面マップのようなデータへと変換する。次に、生成されたデータを使用して、レーザ外科システムを較正する。

Claim (excerpt)：

目の切除処置を実行するレーザ切除システムの較正を分析する方法であって、 試験面をレーザ・システムで選択的に切除することと、 光源からの光を試験面に通すように導くことと、 試験面の屈折力と、レーザ切除システムの少なくとも1つの追加的な切除特徴を求めるために、光が試験面を通過した後、光を分析することとを含む方法。

IPC (4)：

A61B 18/20 ,  H01S 3/00 ,  A61F 9/007 ,  A61B 3/10

FI (5)：

A61B17/36 350 ,  H01S3/00 Z ,  A61F9/00 501 ,  A61F9/00 510 ,  A61B3/10 Z

F-Term (11)：

4C026AA02 ,  4C026BB01 ,  4C026FF23 ,  4C026GG03 ,  4C026HH02 ,  4C026HH12 ,  4C026HH18 ,  4C026HH23 ,  5F172AD06 ,  5F172ZZ03 ,  5F172ZZ04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特許第6195164号
  

Cited by examiner (2)

• 特許第6195164号
  
• 特許第6195164号