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J-GLOBAL ID：200903066756678325

X線断層撮影装置

Inventor： 波田 哲朗
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994275371
Publication number (International publication number)：1996047492
Application date： Jun. 27, 1990
Publication date： Feb. 20, 1996
Summary：

【要約】【目的】 診断能向上と被曝線量低減を図ったX線断層撮影装置を提供する。【構成】 曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行いこの被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状データ収集手段41と、この螺旋状データ収集手段により収集されたデータを記憶する記憶手段と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段7と、この表示手段における透視像に基づき所望の領域を設定する設定手段と、この設定手段で設定された領域及びこの領域における断層像を再構成するに必要な補正演算のための補正データ領域に亘って前記螺旋状データを収集するよう前記螺旋状データ収集手段を制御する制御手段9とを有することを特徴とするX線断層撮影装置。

Claim (excerpt)：

曝射されるX線により被検体に対して螺旋状のスキャンを行いこの被検体についての螺旋状データを収集する螺旋状データ収集手段と、この螺旋状データ収集手段により収集されたデータを記憶する記憶手段と、前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段と、この表示手段における透視像に基づき所望の領域を設定する設定手段と、この設定手段で設定された領域及びこの領域における断層像を再構成するに必要な補正演算のための補正データ領域に亘って前記螺旋状データを収集するよう前記螺旋状データ収集手段を制御する制御手段と、を有することを特徴とするX線断層撮影装置。

IPC (3)：

A61B 6/03 371 ,  A61B 6/03 321 ,  A61B 6/03 350

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-087137
  
• 特開昭62-139630