Pat

J-GLOBAL ID：200903066793527035

近赤外線分光分析法による皮膚水分測定方法および装置

Inventor： 禹 英 雅 ,  金 孝 珍 ,  金 命 潤
Applicant, Patent owner： スペクトロン テック カンパニー リミテッド
Agent (1)： 三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000304478
Publication number (International publication number)：2002090298
Application date： Oct. 04, 2000
Publication date： Mar. 27, 2002
Summary：

【要約】【課題】 皮膚水分濃度の測定において温度や湿度のような外部環境に対し安定な再現性の良い測定を可能にし、更に装置を小型化し携帯性を向上させる。【解決手段】 近赤外線分光分析法による皮膚水分測定方法を用いる。まず皮膚水分測定装置を用いて複数のサンプル皮膚に対し基準水分データを求め、それから同じ複数のサンプル皮膚に対して近赤外線を照射して反射スペクトルを検出し、検出された反射スペクトルを任意抽出法により検量セットと検証セットに分離し、検量セットの反射スペクトルと基準水分データを多変量回帰分析して標準検量式を求め、この標準検量式を検証セットを用いて補正しメモリーに貯蔵する。この後被測定者の皮膚に近赤外線を照射して反射スペクトルを検出し、この検出スペクトルを既に貯蔵された標準検量式に代入し、被測定者の皮膚水分濃度を測定する。

Claim (excerpt)：

皮膚水分測定器を用いて、複数のサンプル皮膚に対して一セットの基準水分データを求める段階、上記複数のサンプル皮膚に対して近赤外線を照射する段階、上記複数のサンプル皮膚から一セットの近赤外線の反射スペクトルを検出する段階、上記検出された反射スペクトルを任意抽出法により検量セットと検証セットに分離する段階、上記分離された検量セットの反射スペクトルと上記一セットの基準水分データを多変量回帰分析し上記複数のサンプル皮膚に対して一セットの標準検量式を求める段階、上記標準検量式を上記検証セットを用いて評価し補正する段階、上記補正された標準検量式を標準検量メモリーに貯蔵する段階、被測定者の皮膚に近赤外線を照射する段階、上記被測定者の皮膚から反射した上記近赤外線の反射スペクトルを検出する段階、および上記検出された反射スペクトルを既に貯蔵された標準検量式に代入して被測定者の皮膚水分濃度を計算する段階、を含むことを特徴とする近赤外線分光分析法による皮膚水分測定方法。

IPC (3)：

G01N 21/35 ,  A61B 5/00 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N 21/35 A ,  A61B 5/00 M ,  G01N 21/27 F

F-Term (19)：

2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC09 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04