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J-GLOBAL ID：200903066798272302

X線診断装置

Inventor： 小松 研一
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 則近 憲佑
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995132583
Publication number (International publication number)：1996047491
Application date： Jun. 28, 1985
Publication date： Feb. 20, 1996
Summary：

【要約】【構成】 本発明は、読出し手段は画素情報を読出し状態とする範囲を切替えることにより撮像素子の撮影範囲を切替えると共に、この撮像範囲に連動して絞りを駆動するものである。また、本発明は、高速低解像モード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算し、このアナログ加算の結果をA/D変換器によりディジタル信号に変換するものである。【効果】 高解像の撮像素子で高速なフレームレートの画像を撮影することができる。

Claim (excerpt)：

X線を被検体に曝射するX線発生手段と、X線の曝射範囲を決定する絞り手段と、光を電荷信号に変換して蓄積する複数の画素をマトリクス状に配置した撮像手段と、前記画素に蓄積された電荷の読出しをライン毎に制御するものであり、読出し状態とするラインの範囲を切替える読出し手段と、前記撮影手段の撮影範囲及び前記読出し手段を連動して制御する手段を備えたことを特徴とするX線診断装置。

IPC (2)：

A61B 6/00 ,  G03B 42/02

FI (2)：

A61B 6/00 303 F ,  A61B 6/00 303 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-120347
  
• 特開昭60-103876