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J-GLOBAL ID：200903066813926390

特徴量の濃縮合成方法、及び特徴量の濃縮合成装置

Inventor： 西川 修史
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 宇高 克己
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997283451
Publication number (International publication number)：1999119795
Application date： Oct. 16, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：

【要約】【課題】 複数の測定方法により得られた特徴量を効率よく合成することにより、パターン認識の精度を高めた技術を提供することにある。【解決手段】 2種類の測定方法により要素数mの特徴ベクトルX、及び要素数nの特徴ベクトルYを得る。特徴ベクトルX及び特徴ベクトルYに対して特徴選択を行う。この特徴選択により、要素数i(i<m)の特徴ベクトルT及び要素数j(j<n)の特徴ベクトルUが生成される。続いて、特徴ベクトルTと特徴ベクトルUとを一列に並べて要素数k(k= i+j)の特徴ベクトルVを生成する。特徴ベクトルVに対して特徴選択を行い要素数l(l<k)の特徴ベクトルWを生成する。

Claim (excerpt)：

パターン認識に用いられる特徴量の濃縮合成方法であって、(a)複数の測定方法に基づいて、入力データから複数の第1の特徴ベクトルを生成する工程と、(b)前記第1の特徴ベクトルの各々に対して任意の特徴選択を行い、複数の第2の特徴ベクトルを生成する工程と、(c)前記複数の第2の特徴ベクトルを併合して第3の特徴ベクトルを生成する工程と、(d)前記第3の特徴ベクトルに対して任意の特徴選択を行い、第4の特徴ベクトルを生成する工程とを有することを特徴とする特徴量の濃縮合成方法。

IPC (2)：

G10L 5/06 ,  G10L 3/00 515

FI (2)：

G10L 5/06 B ,  G10L 3/00 515 A