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J-GLOBAL ID:200903066897764845
多視点画像奥行値抽出装置、その方法およびそのプログラム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (2):
磯野 道造
, 多田 悦夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007320769
Publication number (International publication number):2009146034
Application date: Dec. 12, 2007
Publication date: Jul. 02, 2009
Summary:
【課題】被写体を撮影した複数の撮影画像から、被写体の多視点画像用の奥行値を精度よく抽出する多視点画像奥行値抽出装置を提供する。【解決手段】多視点画像奥行値抽出装置1は、複数の撮影画像をブロックに分割するブロック分割手段10と、対象ブロックごとに、当該対象ブロックが属する撮影画像を撮影したカメラに隣接したカメラが撮影した複数の参照撮影画像で画像特徴の類似度が最も高い類似画像領域を探索するブロック探索手段20と、類似画像領域の位置と対象ブロックの位置との差分の平均値を算出し、対象ブロックにおける視差量とする視差量算出手段30と、撮影画像ごとに、平均化された視差量を、カメラの焦点距離およびカメラ間の距離に基づいて、対象ブロックに対応する被写体の奥行値に変換する奥行値変換手段40と、を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
複数配列したカメラで同一の被写体を撮影した複数の撮影画像から、前記被写体の多視点画像用の奥行値を抽出する多視点画像奥行値抽出装置であって、
前記複数の撮影画像を予め定めた大きさのブロックに分割するブロック分割手段と、
このブロック分割手段で分割された撮影画像の前記奥行値を抽出する対象となる対象ブロックごとに、当該対象ブロックが属する撮影画像を撮影したカメラに隣接したカメラが撮影した複数の参照撮影画像において、画像特徴の類似度が最も高い類似画像領域を探索するブロック探索手段と、
このブロック探索手段で探索された類似画像領域の位置と前記対象ブロックの位置との差分を算出する差分算出手段と、
この差分算出手段で算出された前記参照撮影画像分ごとの差分の平均値を算出し、前記対象ブロックにおける視差量とする平均視差量算出手段と、
前記撮影画像ごとに、前記平均視差量算出手段で算出された視差量を、予め定められた前記カメラの焦点距離および前記カメラ間の距離に基づいて、前記対象ブロックに対応する前記被写体の奥行値に変換する奥行値変換手段と、
を備えることを特徴とする多視点画像奥行値抽出装置。
IPC (3):
G06T 1/00
, H04N 13/02
, G01C 3/06
FI (4):
G06T1/00 315
, H04N13/02
, G01C3/06 110V
, G01C3/06 140
F-Term (23):
2F112AC03
, 2F112AC06
, 2F112BA06
, 2F112BA16
, 2F112CA12
, 2F112DA32
, 2F112FA03
, 2F112FA36
, 2F112FA38
, 2F112FA41
, 2F112FA45
, 2F112GA01
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA07
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
, 5B057DC32
, 5C061AA21
, 5C061AB02
, 5C061AB08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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ステレオカメラの2映像と両眼差度を利用した多視点映像合成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-333842
Applicant:学校法人浦項工科大学校
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多視点画像符号化装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-343205
Applicant:シャープ株式会社
Cited by examiner (2)
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マルチビュー視差表示
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-259913
Applicant:シャープ株式会社
-
距離画像算出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-294848
Applicant:株式会社豊田中央研究所
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