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J-GLOBAL ID：200903066900328318

画像形成装置

Inventor：
大川 研一

About 大川 研一

, 
泉 恵治

About 泉 恵治


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001071029
Publication number (International publication number)：2002264320
Application date： Mar. 13, 2001
Publication date： Sep. 18, 2002
Summary：
【要約】【課題】複数の記録ヘッド間における副走査方向の位置ずれを容易に検出でき、用紙搬送誤差の影響を受けることなく、精度良く調整する。【解決手段】本発明の画像形成装置は、6つの記録ヘッド30K,30C,30M,30LC,30LM,30Yのうち少なくとも2つを用いて、1回の主走査でもって記録媒体上にテストパターン画像を形成し、1回の副走査でもってCCD37により前記少なくとも2つのテストパターン画像を読み取り、制御部34によって、前記テストパターン画像を形成した前記少なくとも2つの記録ヘッドにおける副走査方向の位置ずれを検出することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
複数の記録ヘッドと、前記複数の記録ヘッドで記録された画像を読み取る読み取り手段と、前記複数の記録ヘッドと前記読み取り手段とを記録媒体に対して相対的に主走査させる主走査手段と、前記複数の記録ヘッドと前記読み取り手段とを記録媒体に対して相対的に副走査させる副走査手段と、前記読み取り手段により読み取られた画像の位置に従って各記録ヘッドの位置ずれを検出する検出手段と、を有し、記録媒体に対して前記複数の記録ヘッドを相対的に主走査及び副走査することで画像形成を行う画像形成装置において、前記複数の記録ヘッドのうち少なくとも2つを用いて、前記主走査手段による1回の主走査でもって前記記録媒体上にテストパターン画像を形成し、前記副走査手段による1回の副走査でもって前記読み取り手段により前記少なくとも2つのテストパターン画像を読み取り、前記検出手段によって、前記テストパターン画像を形成した前記少なくとも2つの記録ヘッドにおける副走査方向の位置ずれを検出することを特徴とする画像形成装置。
IPC (3)：
B41J 2/01 ,  B41J 3/44 ,  B41J 29/46
FI (3)：
B41J 3/44 ,  B41J 29/46 C ,  B41J 3/04 101 Z
F-Term (13)：
2C055EE00 ,  2C055EE02 ,  2C056EB07 ,  2C056EB27 ,  2C056EB36 ,  2C056EB42 ,  2C056FA10 ,  2C056HA58 ,  2C061AQ05 ,  2C061AR01 ,  2C061KK18 ,  2C061KK26 ,  2C061KK28
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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