細胞の分裂能評価方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：正林真之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005149588
Publication number (International publication number)：2006325415
Application date： May. 23, 2005
Publication date： Dec. 07, 2006
Summary：

【課題】本発明の目的は、手順が迅速で、コスト面で有利で、かつ、正確に細胞分裂能を評価できる方法を提供することにある。【解決手段】S期細胞の特異的な標識をする第一標識物と全細胞のDNAを標識する第二標識物とを用いて細胞群の標識をする標識工程と、ある時刻に前記細胞群の中から前記第一標識物の特異的な標識をされていない細胞を選抜し、前記選抜された各細胞の第二標識物による標識強度を計測し、この標識強度を指標に各細胞のDNA含量を算出する第一算出工程と、前記ある時刻後所定時間培養後にも第一算出工程と同様の手順で各細胞のDNA含量を算出する第二算出工程と、前記第一算出工程及び前記第二算出工程で算出される各細胞のDNA含量をもとに得られるG1期細胞数及びG2期細胞数を比較する比較工程と、を含む細胞分裂能評価方法。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

被検体である細胞群内のS期細胞の特異的な標識をする第一標識物と、前記細胞群内の全細胞のDNAを標識する第二標識物と、を用いて前記細胞群の標識をする標識工程と、ある時刻に、前記細胞群の中から前記第一標識物の特異的な標識をされていない細胞を選抜し、前記選抜された各細胞の第二標識物による標識強度を計測し、前記計測された標識強度を指標に各細胞のDNA含量を算出する第一算出工程と、前記ある時刻後所定時間培養後に、前記細胞群の中から前記第一標識物の特異的な標識をされていない細胞を選抜し、前記選抜された各細胞の第二標識物による標識強度を計測し、前記計測された標識強度を指標に各細胞のDNA含量を算出する第二算出工程と、前記第一算出工程及び前記第二算出工程で算出される各細胞のDNA含量をもとに得られるG1期細胞数及びG2期細胞数を比較する比較工程と、を含む細胞分裂能評価方法。

IPC (1)：

C12Q 1/68

FI (1)：

C12Q1/68 Z

F-Term (7)：

4B063QA01 , 4B063QA20 , 4B063QQ01 , 4B063QQ42 , 4B063QR90 , 4B063QS36 , 4B063QX02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

診断用キットおよびその使用
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2001-515966 Applicant：ダコエーエス

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