Pat
J-GLOBAL ID:200903067039349348

粉末成分測定方法、粉末成分測定装置および粉末成分測定用の光学ファイバプローブ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 有我 軍一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993204031
Publication number (International publication number):1995005102
Application date: Aug. 18, 1993
Publication date: Jan. 10, 1995
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、粉末成分測定方法、粉末成分測定装置および粉末成分測定用プローブに関し、窓に付着しようとする粉末を粉末粒子の攪拌によって継続的に掻き落とすことにより、光学ファイバプローブの窓が粉末により覆われるのを防止して、測定精度を向上することを目的とする。【構成】 流動床室13内にある粉末をブロア22で流動化させ、窓21を備えた先端部を有する光学ファイバプローブ15を前記流動床11内に挿入し、近赤外線光を窓21を通して流動床11の粉末に照射して、粉末から拡散反射された近赤外線光を前記窓21を通して分光分析システム20により検出し、粉末の成分を測定する。
Claim (excerpt):
粉末中にガスを通過させて、該粉末を流動床内で流動化させる工程と、赤外線光を伝達する窓を備えた先端部を有する赤外線プローブを前記流動床内に配置する工程と、近赤外線光を前記窓を通して伝達して前記流動床の粉末を照射する工程と、粉末からの拡散反射された近赤外線光を前記窓を通して検出する工程と、前記流動床において攪拌された粉末粒子によって前記窓の外表面に付着しようとする粉末を継続的に掻き落とすことにより、赤外線光が前記窓を通過する間に前記窓の外表面が粉末により覆われるのを防止する工程と、前記窓を通して拡散反射された赤外線光から前記粉末の少なくとも一つの成分を測定する工程と、を包含することを特徴とする粉末成分測定方法。
IPC (2):
G01N 21/35 ,  G01N 1/00 101
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平4-219101
  • 特開昭61-138528

Return to Previous Page