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J-GLOBAL ID:200903067084521003

マークエッジ記録方式における記録パルス補正方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柏木 明 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992184233
Publication number (International publication number):1994052547
Application date: Jul. 13, 1992
Publication date: Feb. 25, 1994
Summary:
【要約】【目的】 マークエッジ記録方式において、周囲環境の変動等があっても、正確なエッジ位置制御を可能とすること。【構成】 エッジ位置制御を行う際に、記録パルスのパルス幅及び出力タイミングの補正値の初期値をCPUからメモリに書込み、指定データによる記録パルスをこのメモリに格納されている補正値に従い実際に光記録媒体へ書込み記録した後、記録されたデータを再生し、この再生データと指定データとを比較し、これらのデータが一致するまで補正値を可変させて再度メモリへの書込み、その補正値に従う光記録媒体への書込み記録及びその再生・比較を繰返すことで、補正値の最適値を算出・設定する学習機能を持たせ、その時点での光記録媒体の種類や特性の違い、さらには、周囲環境の変化、或いはドライブ装置や媒体自身の経時変化にも対処し得る適正なエッジ位置制御を可能とした。
Claim (excerpt):
光記録媒体上に強度変調させたレーザ光を照射して、長さが情報を担う記録マークを形成することにより情報を記録するようにしたマークエッジ記録方式において、記録パルスのパルス幅及び出力タイミングの補正値の初期値をCPUからメモリに書込み、指定データによる記録パルスを前記メモリに格納されている補正値に従い前記光記録媒体へ書込み記録した後、記録されたデータを再生し、この再生データと前記指定データとを比較し、これらのデータが一致するまで前記補正値を可変させて前記メモリへの書込み、その補正値に従う光記録媒体への書込み記録及びその再生・比較を繰返して、前記補正値の最適値を算出・設定するようにしたことを特徴とするマークエッジ記録方式における記録パルス補正方法。
IPC (3):
G11B 7/00 ,  G11B 11/10 ,  G11B 20/10 301
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 特開平4-061028
  • 特開平2-081324
  • 特開平3-250427
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