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J-GLOBAL ID:200903067171369676

3次元計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 久保 幸雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996274993
Publication number (International publication number):1998124646
Application date: Oct. 17, 1996
Publication date: May. 15, 1998
Summary:
【要約】【課題】計測条件を設定するための測距の精度が高く、適切な計測条件を設定することのできる3次元計測装置を提供する。【解決手段】計測対象の物体に光を投射する投光光学系40と、撮像面に入射した光の光量に応じた信号を出力する撮像手段53と、撮像手段の撮像面に物体の光学像を結像する受光光学系50と、計測に先立って、投光光学系40によって投光し、撮像手段53の出力信号に基づいて対物間距離情報を得るとともに、得られた対物間距離情報に基づいて計測条件を設定する予備計測制御手段と、設定された計測条件で前記物体に対する3次元計測を実行する本計測制御手段とを備えた構成とする。
Claim (excerpt):
計測対象の物体に光を投射する投光光学系と、撮像面に入射した光の光量に応じた信号を出力する撮像手段と、前記撮像手段の撮像面に前記物体の光学像を結像する受光光学系と、計測に先立って、前記投光光学系によって投光し、前記撮像手段の出力信号に基づいて対物間距離情報を得るとともに、得られた対物間距離情報に基づいて計測条件を設定する予備計測制御手段と、設定された計測条件で前記物体に対する3次元計測を実行する本計測制御手段と、を備えたことを特徴とする3次元計測装置。
IPC (4):
G06T 1/00 ,  G01B 11/24 ,  G02B 5/04 ,  G06T 7/00
FI (4):
G06F 15/64 M ,  G01B 11/24 A ,  G02B 5/04 B ,  G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 三次元画像入力装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-161375   Applicant:株式会社クボタ
  • 特開昭57-066303
  • 三次元形状計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-171860   Applicant:株式会社ユニスン, 世古口言彦

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