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J-GLOBAL ID：200903067220662724

食品加工履歴管理システム

Inventor： 植山 英弘 ,  安田 圭次 ,  関 隆行 ,  花岡 秀臣 ,  小林 生至郎
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社 ,  安立計器株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000070403
Publication number (International publication number)：2001256292
Application date： Mar. 14, 2000
Publication date： Sep. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】 食品工場における加工履歴を簡単に調べることができる。【解決手段】 本発明は、被加工食品2を食品加工装置3で加工した後、この加工された食品2aを、配送出発日時で定まる賞味期限11dを付して納入先へ配送する食品工場における食品の加工履歴を管理する食品加工履歴管理システムである。そして、食品加工装置3における各食品の加工履歴を示す物理量を測定するとともに、納入先へ配送する便を特定する便情報を操作指定する手段6を有し、測定値に操作指定された便情報を付して出力する測定器4,5と、この測定器から出力された便情報が付された測定値を、該当食品の属性情報及び加工日時情報を付して時系列的に累積記憶するデータファイル21とを備えている。

Claim (excerpt)：

順次搬入される被加工食品(2)を食品加工装置(3)で加工した後、この加工された食品(2a)を、配送出発日時で定まる賞味期限(11d)を付して納入先へ配送する食品工場における食品の加工履歴を管理する食品加工履歴管理システムにおいて、前記食品加工装置における各食品の加工履歴を示す物理量を測定するとともに、前記納入先へ配送する便を特定する便情報を操作指定する手段を有し、測定値に操作指定された便情報を付して出力する測定器(4,5)と、この測定器から出力された便情報が付された測定値を、該当食品の属性情報及び加工日時情報を付して時系列的に累積記憶するデータファイル(21)とを備えた食品加工履歴管理システム。

IPC (3)：

G06F 17/60 108 ,  B65G 1/137 ,  A23L 1/00

FI (3)：

G06F 17/60 108 ,  B65G 1/137 A ,  A23L 1/00 Z

F-Term (24)：

3F022AA02 ,  3F022MM07 ,  3F022QQ00 ,  3F022QQ02 ,  4B035LC16 ,  4B035LE17 ,  4B035LP07 ,  4B035LP45 ,  4B035LP59 ,  4B035LT03 ,  4B035LT20 ,  5B049BB07 ,  5B049BB31 ,  5B049CC21 ,  5B049CC31 ,  5B049DD01 ,  5B049DD02 ,  5B049DD05 ,  5B049EE05 ,  5B049EE59 ,  5B049FF02 ,  5B049FF03 ,  5B049FF04 ,  5B049FF09