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J-GLOBAL ID：200903067235120758

故障診断システム

Inventor： 下野 武志
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995113322
Publication number (International publication number)：1996304513
Application date： May. 11, 1995
Publication date： Nov. 22, 1996
Summary：

【要約】【目的】 ゲートの入出力の縮退故障だけでなく、ゲート内部の縮退故障や短絡故障についても短時間に故障箇所の絞り込みを行う。【構成】 被疑故障ゲートの出力に不定故障を定義して故障シミュレーションを行う。被疑故障ゲート判定手段62では、不定故障によりエラーが検出された観測点で不定が出力された時に被疑故障ゲートであると判定する。これを繰り返して最終的に残った被疑故障ゲートを診断結果66として表示する。

Claim (excerpt)：

論理回路の機能レベルの試験の結果に基づいて論理回路の故障を診断する論理回路の故障診断システムにおいて、被疑故障ゲートの出力に0縮退故障および1縮退故障を定義する縮退故障定義手段と、前記試験で使用したテストパターンを用いて故障シミュレーションを行い、前記縮退故障定義手段により定義された縮退故障がどの観測点において検出されるかを求める縮退故障シミュレーション手段と、前記試験によりエラーを発生した観測点に関して前記縮退故障シミュレーション手段により故障が検出された場合にはエラー原因の可能性がある旨を判定し、前記試験によりエラーを発生したパターンにおいてエラーを発生しない観測点に関して前記縮退故障シミュレーション手段により故障が検出された場合にはエラー原因の可能性がない旨を判定する被疑故障ゲート判定手段とを有することを特徴とする論理回路の故障診断システム。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/317 ,  G06F 11/25

FI (3)：

G01R 31/28 F ,  G01R 31/28 A ,  G06F 11/26 310