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J-GLOBAL ID：200903067268282877
歪み測定方法及びその装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松本 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994238964
Publication number (International publication number)：1996094328
Application date： Oct. 03, 1994
Publication date： Apr. 12, 1996
Summary：
【要約】【目的】測定器の量産上、測定感度を一定の設計値に容易に管理でき、測定感度が均一で、高感度で動作できる。【構成】光源8から方向性結合器6を介してブラッグ反射型導波路1に光を入射する。ブラッグ反射型導波路1から入射波が反射して返るとき、ブラッグ格子と光波の波長との関係で定まる特定のスペクトルのみが反射光となる。導波路1が歪みによって変形を受けた場合、導波路1のブラッグ格子は、同率の変動を受けるので、反射光のスペクトルの中心値は変動する。ブラッグ反射型導波路1からの反射光は、方向性結合器6を通り、光分岐器7で分離され、互いに異なる長さの光ファイバ10、11を透過して干渉計に至ると、干渉縞を作る。ブラッグ型反射導波路1からの反射光の波長が変化すると、干渉縞の位置が移動するので、この干渉縞の移動を捉らえて、これを歪みに換算する。
Claim (excerpt)：
歪みを受けると共振波長が変化する歪み検出用導波路を備え、該歪み検出用導波路に光を入射して、上記共振波長と一致する単一の波長ピークをもつ光を出力し、該出力光を分岐して長さに差がある2つの光路を透過させた後干渉させて干渉縞を作り、上記出力光の波長変化に起因して移動する上記干渉縞の移動数をカウントし、そのカウント値から上記歪み検出用導波路に加えられる歪み量の相対値を求める歪み測定方法。
IPC (3)：
G01B 11/16
, G02B 6/00
, G02B 6/02
