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J-GLOBAL ID：200903067362543668

画像処理による傷検査方法

Inventor： 横山 晴彦 ,  小林 彰
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992327835
Publication number (International publication number)：1994174659
Application date： Dec. 08, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【目的】 塵や汚れと、小さな傷との識別を確実に行える画像処理による傷検査方法を提供することを目的としている。【構成】 画像処理によって各画像の方向性を求めて傷か否かを判断する傷検査方法において、被検査物の画像データを処理して検査対象になる2値画像群を求め、これらの2値画像群の各2値画像を構成する画素2に同一番号を付けたラベル領域5を作り、前記各ラベル領域5の輪郭を構成する画素2について各隣接画素間の方向である輪郭方向コード3を算出し、前記輪郭方向コード3の方向分布から前記ラベル領域5の方向を算出し、算出された方向が近いラベル領域5のデータを融合してデータ融合領域を作り、前記データ融合領域の面積等を示す特徴量によって前記データ融合領域が傷か否かを判断することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

画像処理によって各画像の方向性を求めて傷か否かを判断する傷検査方法において、被検査物の画像データを処理して検査対象になる2値画像群を求め、これらの2値画像群の各2値画像を構成する画素に同一番号を付けたラベル領域を作り、前記各ラベル領域の輪郭を構成する画素について各隣接画素間の方向である輪郭方向コードを算出し、前記輪郭方向コードの方向分布から前記ラベル領域の方向を算出し、算出された方向が近いラベル領域のデータを融合してデータ融合領域を作り、前記データ融合領域の面積等を示す特徴量によって前記データ融合領域が傷か否かを判断することを特徴とする画像処理による傷検査方法。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330