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J-GLOBAL ID：200903067403035613

質量分析装置

Inventor： 鍋島 貴之 ,  坂入 実 ,  高田 安章 ,  平林 集 ,  小泉 英明
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 中村 純之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995094719
Publication number (International publication number)：1996293281
Application date： Apr. 20, 1995
Publication date： Nov. 05, 1996
Summary：

【要約】【目的】イオントラップ型質量分析部内でイオン-分子反応が起きることを防止し、分析部内にイオンを長時間閉じ込め、蓄積することを可能にし、分析イオンの検出効率を大きく向上させるイオントラップ型質量分析装置を実現する。【構成】イオントラップ型質量分析部1-9の前段に独立に電子衝撃イオン源部1-3を設け、これにガスクロマトグラフ1-1からの試料ガス分子を導入してイオン化し、発生した試料分子のイオンをイオン導入部1-5を介してイオントラップ型質量分析部1-9に導入する。そして、ここに長時間閉じ込めて蓄積した後、分析部1-9の電極1-6,1-7,1-8に印加してある高周波電圧値を一様に走査して、蓄積されたイオンを質量ごとにイオン検出部1-12に放出して試料分子の分析を行う。

Claim (excerpt)：

気相分子をイオン化するイオン源部と、生成したイオンを質量分析する一対のエンドキャップ電極とリング電極とからなるイオントラップ型質量分析部と、イオンを検出するイオン検出部と、上記イオントラップ型質量分析部を制御する制御部と、上記検出イオンによる信号を処理するデータ処理部とからなる質量分析装置において、外部から導入した試料分子を電子衝撃によりイオン化する電子衝撃イオン源部を上記イオントラップ型質量分析部の前段に独立に設けたことを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/14 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72

FI (3)：

H01J 49/14 ,  G01N 27/62 F ,  G01N 30/72 A