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J-GLOBAL ID：200903067430619899

フーリエ変換質量分析装置

Inventor： 中川 和雄 ,  山崎 博実 ,  高▲桑▼ 保志
Applicant, Patent owner： 日機装株式会社
Agent (1)： 福村 直樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992026577
Publication number (International publication number)：1993054852
Application date： Feb. 13, 1992
Publication date： Mar. 05, 1993
Summary：

【要約】【目的】 既知の物質を含有する気体中のその成分濃度の分析装置として、永久磁石または電磁石の磁場が測定中変動するにもかかわらず、安定した高分解質量分析を可能にしたフーリェ質量変換分析装置を提供すること。【構成】 磁場の長周期変動を特定成分のイオンサイクロトロン共鳴周波数の変化として検出し、その変化分を磁場変動の誤差信号として磁場電源、あるいは高周波源に帰還し、あるいは帰還することなく、コンピュータで誤差補正を行い測定周波数を校正することにより、長時間安定度を向上したフーリェ質量変換分析装置。

Claim (excerpt)：

静磁場内に置かれた高真空セル内に導入した試料気体をイオン化し、高真空セルに設けられた照射電極対に高周波を印加することにより高周波電場をイオンに印加して、測定対象である特定成分のイオンにイオンサイクロトロン共鳴を誘起させ、前記イオンサイクロトロン共鳴を高周波電気減衰信号として検出し、この高周波電気減衰信号をデジタル信号に変換し、時間領域信号であるデジタル高周波電気減衰信号を周波数領域信号に変換するフーリェ変換質量分析装置において、静磁場としての永久磁石または電磁石と、静磁場の変動を補償する変動磁場補償コイルおよび高安定直流電源からなる磁場発生手段と、磁場の長周期変動を特定成分のイオン・サイクロトロン共鳴周波数の変化として検出し、その変化分を磁場変動の誤差信号として、前記高安定直流電源に帰還する帰還手段とを備え、静磁場/照射周波数比を一定に保持するように磁場を制御することを特徴とするフーリェ変換質量分析装置。

IPC (2)：

H01J 49/38 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭51-091791
  
• 特公昭55-034380