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J-GLOBAL ID：200903067457061911

放射性同位元素の壊変によって発生する電磁波を用いた構造解析法

Inventor： 佐々木 裕次 ,  鈴木 芳生 ,  石橋 整
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993195841
Publication number (International publication number)：1995049316
Application date： Aug. 06, 1993
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 試料中のある原子、及び分子に放射性同位元素を置換もしくは、吸着させることにより、励起光なしで、放射性同位元素の壊変によって発生する電磁波を利用してnm精度の構造解析を可能とする。【構成】 試料中のある原子、及び分子に放射性同位元素を置換もしくは吸着させる。放射性同位元素の壊変によって発生してきた電磁波強度の取り出し角分布を測定し、その分布(干渉縞)より、解析対象物中のある原子、及び分子の位置をnm精度で決定する。

Claim (excerpt)：

試料中に含まれる放射性同位元素から発生する電磁波の取り出し角依存性を用いることを特徴とする構造解析法。