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J-GLOBAL ID:200903067506079562
超音波探傷装置及び欠陥識別支援装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
遠山 勉 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997192376
Publication number (International publication number):1998082766
Application date: Jul. 17, 1997
Publication date: Mar. 31, 1998
Summary:
【要約】【課題】欠陥検査の精度を高めると共に、データ処理の時間を短くする。【解決手段】被検査物3からの反射エコーに対応する位置の不連続部を同一面に投影し、同一面上で不連続部が連続する範囲をセルとして作成するセル作成手段21、作成されたセルの分布から欠陥が存在すると判断される欠陥存在エリアを設定する欠陥存在エリア設定手段22、欠陥存在エリア内の不連続部に対応する反射エコーが欠陥エコーか否かを識別する欠陥エコー識別手段23、欠陥存在エリア及び欠陥エコーを表示する表示手段24、欠陥存在エリア設定手段22及び欠陥エコー識別手段23の出力を補正する補正手段25を備えた。
Claim (excerpt):
被検査物に超音波を入射し、前記被検査物の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを検出する超音波検出手段と、前記超音波検出手段を前記被検査物の欠陥検査範囲に沿って少なくとも2種類のピッチで移動させる走査手段と、前記反射エコーに対応する位置の前記不連続部を同一面に投影し、前記同一面上で前記不連続部が連続する範囲をセルとして作成するセル作成手段と、前記セル作成手段で作成された前記セルの分布から前記被検査物の欠陥が存在する可能性があると判断される欠陥存在エリアを設定する欠陥存在エリア設定手段と、前記欠陥存在エリア内の前記不連続部に対応する前記反射エコーが前記被検査物の欠陥エコーであるか否かを判別する欠陥エコー識別手段と、前記欠陥存在エリア設定手段及び前記欠陥エコー識別手段の出力を表示する表示手段と、前記欠陥存在エリア設定手段及び前記欠陥エコー識別手段手段の出力を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (3):
G01N 29/10 505
, G01N 29/22 502
, G01N 29/22 506
FI (3):
G01N 29/10 505
, G01N 29/22 502
, G01N 29/22 506
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