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J-GLOBAL ID:200903067526884747
エッジ検出方法及びエッジ検出装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小池 晃 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995134418
Publication number (International publication number):1996329252
Application date: May. 31, 1995
Publication date: Dec. 13, 1996
Summary:
【要約】【目的】 不要なエッジの混入を防ぎ、エッジ検出精度を高めたエッジ検出方法を提供する。【構成】 濃淡データで構成される入力画像データFinにおける各位置のエッジ方向Tを推定する(ステップS4.1)。また、各位置におけるグラディエントGを求める(ステップS4.2.2)。そして、推定したエッジ方向TとグラディエントGのなす角度のコサインを、推定したエッジ方向Tと長さを「1」に正規化したグラディエントGの内積として求めてエッジ強度を算出し、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出する(ステップS4.2.4)。
Claim (excerpt):
濃淡データで構成される入力画像データの中から、画素値が周囲と比べて急峻に変化している画素群をエッジとして検出するエッジ検出方法であって、入力画像データにおける各位置のエッジ方向を推定すると共に、各位置におけるグラディエントを求め、推定したエッジ方向の情報を補助情報とし、上記補助情報と上記グラディエントからエッジ強度を算出してエッジを検出することを特徴とするエッジ検出方法。
IPC (3):
G06T 9/20
, G06T 5/20
, H04N 1/409
FI (3):
G06F 15/70 335 Z
, G06F 15/68 405
, H04N 1/40 101 D
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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特開昭60-200373
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エッジ及び輪郭抽出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-256406
Applicant:株式会社東芝
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エッジ検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-032999
Applicant:松下電工株式会社
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