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J-GLOBAL ID：200903067619398095

ノイズ測定方法

Inventor： 渡辺 伸之
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995045750
Publication number (International publication number)：1996240625
Application date： Mar. 06, 1995
Publication date： Sep. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】ノイズを含む高周波信号の性質を的確に把握しかつ、帯域通過フィルタの設計指針を明確にする。【構成】与えられた高周波信号中に含まれるノイズを測定するノイズ測定方法において、ヘテロダイン検出手段によって前記高周波信号とそれと異なる所定の周波数を有する信号との差周波を有する差周波信号を検出する差周波信号検出工程と、前記差周波信号検出工程で得られた差周波信号の相関次元を求める相関次元演算工程と、前記相関次元演算工程で求められた相関次元に基づいて前記高周波信号の相関次元を推定する推定工程とを具備する。

Claim (excerpt)：

与えられた高周波信号中に含まれるノイズを測定するノイズ測定方法において、ヘテロダイン検出手段によって前記高周波信号とそれと異なる所定の周波数を有する信号との差周波を有する差周波信号を検出する差周波信号検出工程と、前記差周波信号検出工程で得られた差周波信号の相関次元を求める相関次元演算工程と、前記相関次元演算工程で求められた相関次元に基づいて前記高周波信号の相関次元を推定する推定工程と、を具備したことを特徴とするノイズ測定方法。

IPC (4)：

G01R 29/26 ,  G01M 11/00 ,  H04B 10/02 ,  H04B 10/18

FI (3)：

G01R 29/26 D ,  G01M 11/00 T ,  H04B 9/00 M