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J-GLOBAL ID：200903067642973137

密度測定装置

Inventor： 山地 宏尚 ,  林 一雄 ,  永田 泰昭
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992056341
Publication number (International publication number)：1993215661
Application date： Feb. 06, 1992
Publication date： Aug. 24, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 材料が均一に混合されているか否かに関らず、また複雑な構造の材料でも、被検査物の部分的な密度分布を簡便に測定できる密度測定装置を提供する。【構成】 X線発生装置1から放出したエネルギーE1 ,E2 の一次X線20をコリメートして被検査物Aに照射し、エネルギーE1 の一次X線20が測定領域apqでコンプトン散乱されて発生したエネルギーES の散乱X線21を散乱X線検出器2aで測定し、透過したエネルギーE1 ,E2 の一次X線を一次X線検出器2bで測定する。エネルギーES ,E2 が等しくなるような散乱角度にコリメータ12,13を設定し、得られるエネルギーE2 の散乱X線強度と、透過エネルギーE1 ,E2 の一次X線強度により求められる一次X線のビーム通路L1 における減衰と、散乱X線のビーム通路L2 における減衰とに基づいて、コンピュータ6により密度を演算する。

Claim (excerpt)：

X線発生手段から放出した一次X線をコリメートして被検査物に照射し、前記一次X線が被検査物内で散乱して発生した散乱X線をコリメートしてエネルギー分析可能な散乱X線検出手段で測定する密度測定装置において、前記X線発生手段をエネルギーがE1 およびE2 の少なくとも2つの異なるエネルギーの一次X線を放出させるX線発生手段によって構成し、被検査物にコリメートして照射する前記一次X線のうちエネルギーE1 の一次X線が所望微小体積の測定領域でコンプトン散乱されて発生したエネルギーESの散乱X線をコリメートして前記散乱X線検出手段で測定する際に、前記散乱X線のエネルギーES が前記一次X線のエネルギーE2 と等しくなるような散乱角度となるようにコリメータを設定するコリメータ設定手段と、前記測定領域を透過した後のエネルギーE1 およびE2 の前記一次X線を測定するエネルギー分析可能な一次X線検出手段と、被検査物を通過するX線ビーム通路を変位させる被検査物駆動手段と、得られるエネルギーE2 の散乱X線強度と、被検査物を透過したエネルギーE1 およびE2 の一次X線強度により求められる一次X線の被検査物内の測定領域までのビーム通路における減衰と、散乱X線の被検査物内の測定領域からのビーム通路における減衰とに基づいて密度を演算する演算手段と、この演算した結果を出力する出力手段とを設けたことを特徴とする密度測定装置。