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J-GLOBAL ID：200903067675596193

電子レベル

Inventor： 熊谷 薫 ,  川島 伸二 ,  古屋 喜一 ,  大友 文夫
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992353346
Publication number (International publication number)：1994180230
Application date： Dec. 12, 1992
Publication date： Jun. 28, 1994
Summary：

【要約】[目的] 本発明は電子レベルに係わり、特に標尺のパターン像を光電変換器により電気信号に変換し、得られた電気信号に対してフーリエ変換を施す様になっており、このフーリエ変換出力レベルを利用して合焦制御を行う電子レベルを提供することを目的とする。[構成] 本発明は、望遠鏡光学系の合焦光学系がパターンの像を形成し、光電変換器が、望遠鏡光学系からの光を受けてパターンを信号に変換し、合焦部が、光電変換器上にパターンを形成させる様になっている。そして信号処理部が、光電変換器の出力をフーリエ変換し、合焦制御部が信号処理部の出力レベルに基づき、合焦部の制御を行う様になっている。そして合焦制御部は、粗いステップにより得られたフーリエ変換出力レベルに基づき、概略の合焦位置を求め、その後、細かいステップにより得られたフーリエ変換出力レベルに基づき精密調整を行う様にすることもできる。

Claim (excerpt)：

測長方向に等ピッチで配列されたパターンを有した標尺を視準し高低差を自動的に求める電子レベルにおいて、該パターンの像を形成するための合焦光学系を含む望遠鏡光学系と、この望遠鏡光学系からの光を受け、前記パターンを信号に変換するための光電変換器と、この光電変換器上に該パターンを形成させるための合焦部と、前記光電変換器の出力をフーリエ変換するための信号処理部と、この信号処理部の出力レベルに基づき、前記合焦部の制御を行うための合焦制御部とから構成されている電子レベル。

IPC (2)：

G01C 5/00 ,  G01C 3/06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 電子レベルと電子レベル用標尺
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-155982   Applicant：株式会社トプコン
• 異常検出機能付き電子レベル
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-353347   Applicant：株式会社トプコン