製品結晶粒径制御装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：瀧野秀雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993286852
Publication number (International publication number)：1995138017
Application date： Nov. 16, 1993
Publication date： May. 30, 1995
Summary：

【要約】【目的】製塩工程における晶析現象の振動性や非線形性に対して製品結晶粒径を安定に制御する。【構成】製塩工程の晶析システム20において振動性で非線形性を示す晶析装置aの特性を、モデル構築機能部11により製品結晶粒径という幅のある測定データによりニューラルネットの学習機能でモデル化する。構築したモデルに基づいていて目標とする製品結晶粒径から、目標値となるような晶析因子を推論する。運転状態が変動する場合、運転状態の変動の要因となった晶析因子の他の晶析因子について、目標の結晶平均粒径に対する晶析操作条件をモデルで推論する。製品結晶粒径の最大値、代表平均値および最小値による有効範囲の判定を行って推論する。

Claim (excerpt)：

製塩工程における製品結晶粒径と晶析因子のデータから晶析装置の特性をニューラルネットを用いてモデル化するモデル構築手段と、上記モデル構築手段で構築されたモデルに基づいていて目標とする製品結晶粒径から晶析因子を推論する推論手段と、を備えたことを特徴とする製品結晶粒径制御装置。

IPC (5)：

C01D 3/22 , G05B 13/02 , G05B 13/04 , G05D 5/06 , A23L 1/237

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開昭53-124634
特公昭43-007838
特開平3-134705

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