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J-GLOBAL ID：200903067735835397

X線撮影装置

Inventor： 犬賀 美帆 ,  吉田 崇
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (6)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007122802
Publication number (International publication number)：2008272381
Application date： May. 07, 2007
Publication date： Nov. 13, 2008
Summary：

【課題】 X線の過剰照射を抑止すると同時に、術者が設定した時間が経過するまでの間、X線照射を継続することを可能にすること。【解決手段】 X線撮影装置は、対象物に照射したX線の累積被曝量を推定する推定部と、許容される最大被曝量と、累積被曝量と、の差分により許容残被曝量を算出する許容残被曝量算出部と、予め定められたX線照射予定時間と、対象物に照射したX線の実照射時間との差分によりX線照射許容時間を算出するX線照射許容時間算出部と、許容残被曝量と、X線照射許容時間と、に基づきX線照射の基準となるX線照射基準量を算出するX線照射基準量算出部と、X線照射基準量に基づき、X線照射許容時間内のX線照射量を設定し、対象物に対するX線照射を制御する制御部とを備える。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

対象物に照射したX線の累積被曝量を推定する推定手段と、 許容される最大被曝量と、前記累積被曝量と、の差分により許容残被曝量を算出する許容残被曝量算出手段と、 予め定められたX線照射予定時間と、前記対象物に照射したX線の実照射時間との差分によりX線照射許容時間を算出するX線照射許容時間算出手段と、 前記許容残被曝量と、前記X線照射許容時間と、に基づきX線照射の基準となる単位時間あたりのX線照射基準量を算出するX線照射基準量算出手段と、 前記X線照射基準量に基づき、前記X線照射許容時間内の単位時間あたりのX線照射量を設定し、前記対象物に対するX線照射を制御する制御手段と を備えることを特徴とするX線撮影装置。

IPC (1)：

A61B 6/00

FI (1)：

A61B6/00 320R

F-Term (4)：

4C093CA34 ,  4C093FA15 ,  4C093FA18 ,  4C093FA52

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• X線診断装置およびX線診断装置のデータ処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-071633   Applicant：株式会社東芝