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J-GLOBAL ID：200903067771219082
粒度分布測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994118158
Publication number (International publication number)：1995325026
Application date： May. 31, 1994
Publication date： Dec. 12, 1995
Summary：
【要約】【目的】 得られた粒度分布が妥当であるか否かを容易に知ることができ、装置のブラックボックス化を防ぐと同時に、測定結果の信頼性を向上させることのできる、レーザ回折/散乱式の粒度分布測定方法を提供する。【構成】 粒子群にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光の検出結果を、あらかじめ設定された粒子屈折率を含む拘束条件を含むアルゴリズムによって粒度分布に換算する方法において、換算された粒度分布データを、演算条件を伴わない基礎演算式を用いて、光強度分布に逆算することにより、演算条件の妥当性を判断できる。
Claim (excerpt)：
分散状態の粒子群にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光の空間強度分布を検出するとともに、その検出結果を、あらかじめ設定された被測定粒子群の屈折率並びに当該測定装置固有の条件を含むアルゴリズムを用いて粒度分布に換算する方法において、換算された粒度分布データを、上記設定された屈折率並びに当該装置固有の条件に関係しない、回折/散乱光空間強度分布と粒度分布とを関係づける基礎演算式を用いて、回折/散乱光空間強度分布に逆算することを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (2)：
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