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J-GLOBAL ID：200903067775640777

外観検査装置における傷検査方法

Inventor： 美濃口 昭
Applicant, Patent owner： 東洋通信機株式会社
Agent (1)： 鈴木 均
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994056734
Publication number (International publication number)：1995243976
Application date： Mar. 02, 1994
Publication date： Sep. 19, 1995
Summary：

【要約】【目的】半透明ガラス製品の表面に存在するヒキ傷を高精度に検出する傷検出方法を提供する。【構成】本発明の傷検査方法は、半透明ガラス製品の表面に存在する傷を検査する方法であって、被検査物の表面の画像を取り込み、検出されたラベルに対して縮退処理を施し、複数のドットからなるラベルを1点に凝縮させる手段と、該凝縮したヒキ傷候補点の内、少なくとも2点のアドレスを算出すると共に、該2点のアドレスから直線を方程式を算出する手段と、前記取り込んだ画像の内、前記算出した直線上の画素の輝度値を判定する手段とからなる。

Claim (excerpt)：

半透明ガラス製品の表面に存在する傷を検査する方法において、被検査物の表面の画像を取り込み、検出されたラベルに対して縮退処理を施し、複数のドットからなるラベルを1点に凝縮させる手段と、該凝縮したヒキ傷候補点の内、少なくとも2点のアドレスを算出すると共に、該2点のアドレスから直線の方程式を算出する手段と、前記取り込んだ画像の内、前記算出した直線上の画素の輝度値を判定する手段と、を備えたことを特徴とする外観検査装置における傷検査方法。