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J-GLOBAL ID：200903067819855822
プリント基板及びその劣化診断方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994039591
Publication number (International publication number)：1995249840
Application date： Mar. 10, 1994
Publication date： Sep. 26, 1995
Summary：
【要約】【目的】 プリント基板4における腐食,マイグレーションに起因する短絡等の劣化を定量的に診断可能にする。【構成】 ベース基板5表面に電子回路6の一部を構成する複数の導体7が印刷配線されたプリント基板4において、ベース基板5表面における電子回路6を構成する各導体7に対して独立した位置に、両者間に一定の抵抗値と静電容量を有するように、互いに接する事なく近接対向して、一対の電極導体8,9を予め印刷配線する。そして、劣化診断を行う時に、一対の電極導体8,9相互間における0.1Hz以上1kHz以下の低周波数領域での誘電正接 tanδを測定し、測定された誘電正接の値に基づいて導体7相互間における短絡に至るまでの時間を予測する。
Claim (excerpt)：
ベース基板表面に電子回路の一部を構成する複数の導体が印刷配線されたプリント基板において、前記ベース基板表面における前記電子回路を構成する各導体に対して独立した位置に、両者間に一定の抵抗値と静電容量を有するように、互いに接する事なく近接対向して、一対の電極導体を印刷配線したことを特徴とするプリント基板。
IPC (3)：
H05K 1/02
, G01R 31/02
, H05K 3/00
