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J-GLOBAL ID：200903067842597601

光学的異方性測定装置及びその測定方法

Inventor： 大嵜 美紀
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 近島 一夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996049205
Publication number (International publication number)：1997243510
Application date： Mar. 06, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】光学的異方性を有する物質の界面での光学的異方性と、その物質の内部での光学的異方性とを同時に測定できるようにする。【解決手段】第1の光源11aから出射される第1の入射光束A1を、第1の入射光学系13aにより液晶層5の界面に収束させ、前記界面で全反射した第1の出射光束(反射光束)B1を第1の出射光学系14aにより第1の光検出器16aに入射して、液晶層5の界面での配向状態を測定し、且つ同時に、第2の光源11bから出射される第2の入射光束A2を、第2の入射光学系13bにより液晶層5の界面に収束させ、前記界面から液晶層5を透過した第2の出射光束(透過光束)B2を第2の出射光学系14bにより第2の光検出器16bに入射して、液晶層5の内部(バルク部分)での配向状態を測定する。

Claim (excerpt)：

平面部及びその背面側に曲面部を有し、前記平面部上に光学的異方性を有する物質を一対の基板間に挟持してなる被検体が移動自在に載置される透明部材と、出射される第1の入射光束が、前記透明部材の曲面部を透過して前記物質と前記透明部材側に位置する一方の前記基板との界面近傍で全反射するように配置された第1の光源と、前記界面で全反射された反射光束を前記曲面部を通して入射して、前記物質の前記界面での光学的異方性を測定する第1の測定手段と、出射される第2の入射光束が前記被検体の前記物質を透過するように配置された第2の光源と、前記被検体を透過した透過光束を入射して、前記物質の内部での光学的異方性を測定する第2の測定手段と、を備えたことを特徴とする光学的異方性測定装置。

IPC (4)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/47 ,  G02F 1/13 505

FI (4)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/47 B ,  G02F 1/13 505