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J-GLOBAL ID：200903067844651735
物体探査装置及び探査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992289824
Publication number (International publication number)：1993302973
Application date： Oct. 31, 1984
Publication date： Nov. 16, 1993
Summary：
【要約】【目的】本発明の目的は、媒質中の探査物体を高精度で検出できる物体探査装置、及び探査方法を提供することにある。【構成】本発明は、媒質100内の探査物110に波動を送信し反射波動を受信する送受器120と、波動送信用信号を送受器120に送るパルス発振器130と、送受器120の位置を検出し位置信号を出力する位置検出器190と、反射波動の位相を検出する位相抽出器160と、送受器120の受信位置に対する反射波動の位相変化率を演算し、該位相変化率の値に基づいて探査物110からの反射波動を抽出し、探査物110の位置を標定する処理装置170などで構成される。
Claim (excerpt)：
媒質内の探査目標に波動を送信し反射波動を受信する送受信器と、該送受信器に前記送信波動を送信させる信号を送る発振器と、前記送受信器が受信した反射波動に基づいて前記探査目標を検出する演算処理装置とからなる物体探査装置において、前記送受信器の位置を検出する位置検出器を備え、前記演算処理装置に、前記反射波動の位相を検出する位相検出器と、該位相検出器からの位相信号及び前記位置検出器からの位置信号を用いて受信位置に対する前記反射波動の位相変化率を演算し、該位相変化率の値に基づいて前記探査目標からの反射波動を抽出し、該探査目標を検出する演算装置とを備えたことを特徴とする物体探査装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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