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J-GLOBAL ID：200903067897605433

根菜類の欠陥の非破壊検査装置

Inventor： 谷本 政男 ,  藤井 茂 ,  田村 学
Applicant, Patent owner： コアテック株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998135872
Publication number (International publication number)：1999295215
Application date： Apr. 08, 1998
Publication date： Oct. 29, 1999
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】欠陥大根の自動選別を時に、傷、形状欠陥、内部の黒芯等を非破壊検査により選別し、作業者に選別検査結果が判る仕組みとする。同時に、選果場において、装置のメインテナンスを容易にする仕組みを付帯させる。【解決手段】大根の外部検査をまず行い、欠陥大根を選別すると同時に、太さにより非破壊検査のための照射光の調整をし、品種や大きさが変化しても均一な測定が出来るようにした。作業者は移動してくるその検査結果を検査結果表示器で見ながらランク別にコンベアより取り上げ箱詰めする。コンベア上のトレイは柔らかい材質にした。照射光と透過光の波長分布変化より得られる品種別、ほ場別、生産者別等の情報は、選別と表示だけでなく、連作障害防止のために活用する。又、通信技術を使って、機械技術者と選果場を結び、遠隔地の装置メインテナンスをおこなう。

Claim (excerpt)：

洗浄機より搬入された根菜類を、移動するコンベア上に一定間隔を置いて配置し、1本の根菜類ごとに、一定光量の光を2ケ所以上の場所に照射して、画像処理カメラにより外部検査をした後、そのデータに基づき調整した光を根菜類の内部を透過させ、その透過光の波長分布変化を画像処理カメラで分析して根菜類の内部欠陥を検査する装置