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J-GLOBAL ID：200903067906464171

オンライン測光測定装置

Inventor： 木村 美紀夫 ,  竹下 裕二
Applicant, Patent owner： 三井金属鉱業株式会社
Agent (1)： 岡部 正夫 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991249148
Publication number (International publication number)：1993099841
Application date： Sep. 27, 1991
Publication date： Apr. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 蓄積型センサを用いた否接触測定器において、被測定物の形状や載置位置に影響を受けることなく高精度の測定を可能とする。【構成】 測定光を所定周期でチョッピングし、反射光を蓄積型センサで受光する。受光タイミングをチョッピング動作及び被測定物の搬送速度と同期せしめ、複数会受光素子で受光することにより、等価的に長い測定視野を測定することを可能とする。

Claim (excerpt)：

被測定物を搬送する搬送手段と、該被測定物に測定光を投射する手段と、被測定物からの反射光を分光する手段と、分光された測定光を受光するセンサと、該センサの出力結果を解析し、被測定物の内部性状を解析する処理装置と、前記測定光投射手段から投射される測定光を所定の周波数でチョッピングする手段と、搬送手段上の被測定物の載置位置を検出する手段とからなるオンライン測光測定装置において、前記搬送手段の搬送速度と前記載置位置検出手段の検出結果とから各被測定物の測定開始位置を決定し、前記チョッピングされたパルス状の反射光を連続して複数回計測することを特徴とするオンライン測光測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/85

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-301147
  
• 特開平3-188978
  
• 特開平2-186140