Pat
J-GLOBAL ID:200903067920307070

X線分析用試料マウント具

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 平木 祐輔 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995146450
Publication number (International publication number):1996338818
Application date: Jun. 13, 1995
Publication date: Dec. 24, 1996
Summary:
【要約】【目的】 蛋白質結晶等の試料に応力をかけることなく軸立てしてマウントすることができ、また、マウント具自体から強い回折線を発生させることがなく、ブラインド領域も生じないX線分析用試料マウント具を提供する。【構成】 溶融石英等の非晶質材料からなるロッド31の先端に溶融石英等の非晶質材料からなる筒状部材30を、筒状部材30の軸がロッド31の軸と略直交するように固定してなるマウント具。【効果】 試料マウント部は筒状であって試料が露出しているため、寒剤を試料に直接接触させて急速冷凍することができる。試料は筒状部材の比較的広い平坦な壁面に付着するため、結晶を歪ませずに軸立てしてマウントすることができる。また、非晶質材料できているため、マウント具自体から強い回折線が生じることもない。
Claim (excerpt):
非晶質材料からなるロッドの先端に非晶質材料からなる筒状部材を該筒状部材の軸が前記ロッドの軸と略直交するように固定したことを特徴とするX線分析用試料マウント具。
IPC (2):
G01N 23/20 ,  G01N 1/28
FI (2):
G01N 23/20 ,  G01N 1/28 W
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page