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J-GLOBAL ID:200903068002875615

X線露光マスク及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992046461
Publication number (International publication number):1993251312
Application date: Mar. 04, 1992
Publication date: Sep. 28, 1993
Summary:
【要約】【目的】 位相シフト効果を利用し、X線露光の解像力を向上させる。【構成】 X線透過膜1上に二酸化ケイ素からなる位相シフタ4のパターンを形成する。その上に重金属のX線吸収体膜を形成し、異方性エッチングして、位相シフタ4の側壁部にのみ残す。
Claim (excerpt):
X線吸収体パターン間にX線の位相をシフトさせる材料を挟み込んだ構造を特徴とするX線露光マスク。
IPC (2):
H01L 21/027 ,  G03F 1/16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特公昭59-024315

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